LOGOWANIE

Kwalifikacja HAN2 - STYCZEŃ 2018

Wolisz testy bez reklam?
WYŁĄCZ REKLAMY TERAZ
PYTANIE NR 40.
W jaki sposób można zmniejszyć ryzyko uszkodzenia układu scalonego typu CMOS przez wyładowanie elektrostatyczne podczas jego wlutowywania ?
Wolisz testy bez reklam?
WYŁĄCZ REKLAMY TERAZ
A.
B.
C.
D.