W analizie składu chemicznego powierzchni kluczowe jest, aby metoda była powierzchniowo czuła, czyli dostarczała informacji głównie z bardzo cienkiej warstwy wierzchniej. Taką metodą jest Spektroskopia fotoelektronów (XPS), która umożliwia wyznaczenie składu pierwiastkowego powierzchni oraz – na podstawie przesunięć energetycznych i kształtu linii – często także wnioskowanie o stanie chemicznym (np. utlenieniu, rodzaju wiązań) badanych pierwiastków.
Odpowiedź "Spektroskopia mas" jest typowo kojarzona z bardzo czułą analizą składu, ale w praktyce spektrometria mas najczęściej dotyczy gazów, cieczy lub materiału wprowadzanego do źródła jonów; sama w sobie nie jest standardową metodą bezpośredniej, selektywnej analizy samej powierzchni ciała stałego bez odpowiedniej techniki jonizacji/desorpcji i konfiguracji pomiaru.
"Spektroskopia Ramana" dostarcza informacji o drganiach cząsteczek i strukturze związków, ale zwykle sonduje warstwę głębiej niż klasyczne metody powierzchniowe i jej "powierzchniowość" zależy silnie od warunków (optyka, właściwości próbki). Nie jest to podstawowy wybór, gdy celem jest jednoznaczny skład warstwy wierzchniej.
"Spektroskopia NMR" jest z kolei metodą przede wszystkim objętościową (dla roztworów i ciał stałych) i wymaga innych warunków przygotowania próbki. Świetnie opisuje strukturę i otoczenie chemiczne jąder, ale nie jest typową metodą do analizy wyłącznie powierzchni materiału.
Wskazówka egzaminacyjna: gdy w treści pojawia się słowo "powierzchnia", szukaj metod o czułości powierzchniowej (np. XPS). Gdy jest "skład próbki" bez doprecyzowania warstwy, wtedy częściej rozważa się metody objętościowe.
